通过特殊的数字化光泽控制方式同时测量SCI和SCE，仅需4秒即可连续测量。与传统机型不同的是，无需在SCI和SCE模式之间进行频繁的机械切换，这样就提高了工作效率。由于在切换模式时测量区域不会变化，因此可提供稳定的测量数据。
包含UV的光源和筛除UV的光源依次发光，可获取包含UV的光源下的样本数据和不包含UV的光源下（400nm或420nmUV截止滤光片）的样本数据。
也可轻松获取任意光源下的数据（UV调整）。任意光源下仅需测量已知分光反射率数据的标准荧光样本，即可完成UV校正。UV校正后可获取相应光源下的样本数据。由于无需对UV截止滤光片移动引起的尝试错误进行UV调整，大大缩短了测量时间。
添加荧光染料的衬衫
添加了荧光染料的纸张
可进行各种样本测量
与CM-3600d的数据有兼容性
照明/受光系统与传统机型CM-3600d一样，具有数据兼容性，因此原CM-3600d用户可继续使用现有数据库。
电脑控制下精确可靠的台式仪器
可通过Windows系统软件加以操作。
测量口径为 Φ25.4mm、Φ8mm、Φ4mm
使用10nm波长间隔测量360nm~740nm全范围波长。采用双波束方式、双通道传感阵列实现高精度和高再现性。
致力于免维修化的高可靠性设计
通过技术革新实现SCI/SCE之间的切换，并将滤光器等部件的移动减至小。在设计和产品校准中引入了ISO9001认证质量管理体系，使产品具有高可靠性和耐用性。
具有3种测量口径
可根据样品尺寸选择适当的测量口径。
主要用途
各行业的研发和质量管理部门
大学、实验室、检查机构
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照明/受光系统 |
反射：d/8（漫射照明，8°方向接收） |
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传感器 |
硅光二极管阵列（双列40组） |
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分光方式 |
平面回折光栅 |
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测量波长范围 |
360nm～740nm |
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测量波长间隔 |
10nm |
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半波宽 |
约10nm |
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反射率测量范围 |
0～200%；分辨率： 0.01% |
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照明光源 |
脉冲氙灯×4 |
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测量时间 |
约1.5秒（输出数据为止） |
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测量间隔 |
普通SCI/SCE模式时4秒（透射测量时3秒，荧光测量时5秒） |
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测量/照明口径 |
LAV：Ø25.4mm/Ø30mm（可更换） |
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重复性 |
白板校正后，以10秒间隔测量白色校正板30次 |
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器间差 |
△E*ab 0.15（LAV/SCI） |
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温度波动性 |
光谱反射率：±0.10%/℃以内, |
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透射测量规格 |
样品宽度：133mm，厚度：小于50mm |
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端口 |
USB 1.1 |
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电源 |
AC 100V/240V 50/60Hz |
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操作温湿度范围 |
13℃～33℃，相对湿度80%以下（35℃），无凝露 |
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储存温湿度范围 |
0℃～40℃，相对湿度80%以下（35℃），无凝露 |
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尺寸（长×宽×高） |
CM-3600A 244×205×378mm |
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重量 |
CM-3600A 11.5kg |
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